EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可测量各种金属涂层的厚度,包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法,属于物理分析方法。当样品受到X射线照射时,样品中所含涂层或基体材料元素的原子受到激发后会发射出自己特有的X射线。不同的元素有不同的X射线特性。当探测器探测到这些特征x射线时,它会把它们的光信号转换成模拟电信号。模拟电信号经模数转换器转换为数字信号,送入计算机进行处理。...
镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。...
镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 ...
若是测电镀层的厚度,而且具有几层镀层,那末就要使用x-射线X荧光测厚仪.单镀层厚度年夜于0.5um的还可以采用金相法观察....
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