JB/T 11144-2011
X射线衍射仪

X-ray diffractometer


JB/T 11144-2011 发布历史

本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等。 本标准适用于θ-θ、θ-2θ结构测角仪的多晶X射线衍射仪(以下简称衍射仪)。

JB/T 11144-2011由行业标准-机械 CN-JB 发布于 2011-12-20,并于 2012-04-01 实施。

JB/T 11144-2011 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器,在国际标准分类中归属于: 17.180.99 有关光学和光学测量的其他标准。

JB/T 11144-2011 发布之时,引用了标准

  • GB/T 1184 形状和位置公差未注公差值
  • GB/T 2829 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
  • GB/T 13384 机电产品包装通用技术条件
  • JB/T 9329-1999 仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法

JB/T 11144-2011的历代版本如下:

JB/T 11144-2011



标准号
JB/T 11144-2011
发布日期
2011年12月20日
实施日期
2012年04月01日
废止日期
中国标准分类号
N33
国际标准分类号
17.180.99
发布单位
CN-JB
引用标准
GB/T 1184 GB/T 2829 GB/T 13384 JB/T 9329-1999
适用范围
本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等。 本标准适用于θ-θ、θ-2θ结构测角仪的多晶X射线衍射仪(以下简称衍射仪)。

JB/T 11144-2011 中可能用到的仪器设备


谁引用了JB/T 11144-2011 更多引用





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