GB/T 6146-1985
精密电阻合金电阻率测试方法

Test method for resistivity of precision resistance alloys

GBT6146-1985, GB6146-1985

2011-05

标准号
GB/T 6146-1985
别名
GBT6146-1985, GB6146-1985
发布
1985年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 6146-2010
当前最新
GB/T 6146-2010
 
 
适用范围
本标准适用于测量实心并具有均匀截面的精密电阻合金的体积电阻率和单位长度电阻。

GB/T 6146-1985相似标准


推荐

SPM合作研究发表国际顶级期刊丨探究Cu-Ni-Al合金增强的奥秘

而岛津SPM的表面电流测试模式可以对精密抛光后的合金表面,在施加恒定偏压的情况下进行扫描,检测探针和合金之间的电流,从而直观地展示合金表面电流的分布情况。图2 Cux[Ni3Al1]合金γ相和γ′相的SPM表面电流图如图2所示,蓝色和红色区域分别代表γ相和γ′相,其对应的电流值分别为15.55 nA和0.76 nA,电流值越大代表此处的导电性能越好,由此可知,溶质固溶加大了两相电阻差值。...

四探针测试仪原理和组成

有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀 金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试 夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。      ...

高温四探针测试仪结构组成及应用范围概述

根据不同材料特性需要,配有多款测试探头:  1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;  2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻;  3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻;  4)高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...

双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪

有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。...


GB/T 6146-1985 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 6146-1985 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号