ISO 19830:2015
表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
Surface chemical analysis - Electron spectroscopies - Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
ISO 19830:2015 发布历史
ISO 19830:2015由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2015-11-15。
ISO 19830:2015 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO 19830:2015 。
ISO 19830:2015 发布之时，引用了标准
- ISO 18115-1:2013 表面化学分析.词汇.第1部分:一般术语和光谱学术语
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
ISO 19830:2015的历代版本如下：
- 2015年 ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
采用 ISO 19830 的发行版本有：
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- 标准号
- ISO 19830:2015
- 发布
- 2015年
- 中文版
- GB/T 41073-2021 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 19830:2015
- 引用标准
- ISO 18115-1:2013 ISO 21270:2004
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