300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F

JEM-3100F具有世界同档次最高分辨率0.17nm。采用最先进的数字化控制系统，操作更简单。应用范围非常广泛。 主要特点： 1）全球同档次最先进的透射电子显微镜 2）实现同档次全球最高分辨率 3）操作更加简单 4）扩展性更强 5）稳定性极高 技术参数： 点分辨率：0.17nm 线分辨率：0.1nm STEM ：0.14nm 电子枪 ：肖特基式热场发射枪 亮度 ：7x108A/cm2sr以上 束流强度：0.5nA 以上/1nm 放大倍数：x60 - x1,500,000 能谱立体角：0.13sr