应用领域：细胞生物学，微生物，生理生态，分子生物学，电子/电器/半导体，机械设备，纳米材料，高分子材料，生物质材料
资料类型：操作维修手册
在C-AFM测量中，导电尖端以接触模式AFM扫描表面，以映射出同一表面的形貌。同时，通过测量针尖与样品之间的电流，来反映样品表面的电导率等电特性。一般情况下，针尖与样品之间的电流非常小，需要用电流放大器放大后才能加工成图像。NX系列SPMs支持10^6~10^12 V/A可变增益的内部电流放大器，满足各种测量条件的需要。
方案摘要
相关产品
