具有OmniRing的第二代三锥接口的新型设计专为NexION 5000 ICP-MS而研发，兼顾了灵敏度和稳定性。该设计以三锥接口几何 结构为基础，基于简单高效的OmniRing技术提供了独特的应对空 间电荷效应的解决方案。该设计从ICP-MS理想接口的诸多特性着 手，通过减少离子流提高了传输效率，与此同时，还以受控的方式 实现了离子通过接口后的加速，而不会将高能离子传输到下游离子 光学系统中。结果是在没有提高仪器本底水平的情况下，大大提高 了分析物的信号强度。通过这种新型接口设计，能够在强健等离子 体条件下，直接以亚ppt级的背景等效浓度对复杂基质进行分析。 除了提高灵敏度，该接口设计还使NexION 5000 ICP-MS在处理 具有挑战性的基体时，彰显出无与伦比的稳定性。这要归功于三级 压降系统，以及将那些如锥和离子透镜等易于样品沉积和离子溅射 的表面进行尽量小化处理的设计。