4月11日，香港科技大学（广州）材料表征与制备中央实验室 (MCPF) 成功举办了一场关于最新表面分析技术的学术沙龙。本次研讨会的主题为 “Hybrid SIMS: 具有高质量分辨能力的二次离子质谱成像技术 "（Hybrid SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Imaging with High Mass Resolving Power）。

IONTOF资深工程师Sven讲解Hybrid SIMS仪器工作原理和应用案例

Hybrid SIMS仪器是由IONTOF公司开发的，由飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）与轨道离子阱（Orbitrap）质谱仪有机结合而成，能够进行材料的超高质量分辨率质谱测量以及高空间分辨率的二维/三维质谱成像实验。

此次研讨会特邀IONTOF资深工程师Sven Kayser 做报告，他向参会者祥细地介绍了Hybrid SIMS的设计概念、工作原理以及在不同领域的应用案例，例如对纹身颜料的定位和鉴定、皮肤横断面的成像、番茄横切面中番茄碱的分析以及半导体材料深度分析等。本次研讨会是前沿技术与交叉学科的融合，为材料科学、生物学、环境学、食品学、药学、信息学等各个领域的研究人员提供新的研究手段。

领域：生物成像,电子/电器/半导体,高分子材料,电池/锂电池,失效分析,功能材料

标签：ToF-SIMS, Hybrid SIMS, 飞行时间二次离子质谱, 香港科技大学, 北京艾飞拓