[产品简介]
蔡司X射线显微镜Xradia515Versa，利用领先技术和高分辨率探测器，将3DX射线显微镜(XRM)的性能提升至全新水平，为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。
该系统不仅保持先进的大样品高分辨率技术优势，还能实现高达500nm的空间分辨率，通过使用更高分辨率的光学元件，改善和突破分辨率，加入更多智能元素，具有更广阔的拓展能力。
兼容ART3.0高级重构工具箱，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。此外，Xradia515Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。
结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品无与伦比的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速提供分析成果。
[产品特点]
ü三维无损成像
ü500nm真实空间分辨率
ü独特的大工作距禈下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像
ü吸收、相位衬度成像模式
ü智能防撞系统，使您的设置更简单、更智能
ü4D原位成像能力
ü可升级、拓展和可靠性
[应用领域]
ü材料科学，如金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析
ü生命科学，如微观结构三维成像
ü地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像
ü电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析
ü原位力学、变温试验