[产品简介]蔡司X射线显微镜Xradia515Versa，利用其创新技术和高分辨率探测器，将3DX射线显微镜(XRM)的性能提升至新水平。它为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，该系统可实现高达500nm的空间分辨率。它采用更高分辨率的光学元件，实现了分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能元素，并具有更广泛的扩展能力。 它与ART3.0高级重构工具箱兼容，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。此外，Xradia515Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。 结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品具有无与伦比的多功能和多应用领域特点，能快速为您的研究工作提供分析成果。
[产品特点]ü 三维无损成像
ü 500nm真实空间分辨率
ü 独特的大工作距禈下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像
ü 吸收、相位衬度成像模式
ü 智能防撞系统，让您的设置更简单、更智能
ü 4D原位成像能力
ü 可升级、拓展和可靠性 
[应用领域]ü 材料科学，如金属、陶瓷、高分子、混凝土等三维无损分析
ü 生命科学，如微观结构三维成像
ü 地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像
ü 电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析
ü 原位力学、变温试验