产品详情：
1、产品特点：
 DECTRISPILATUS3RCdTe系列结合了无噪声单光子计数的特点以及在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的特点。与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRISInstantRetriggerTechnology提供了较快的计数能力，结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，DECTRISPILATUS3RCdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的组合，并且是实验室中这些要求的更高匹配。
2、核心优势
 -Mo，Ag和In量子效率>90％
 -直接检测清晰的空间分辨率
 -没有读出噪音，也没有黑暗信号达到较高精度
 -高动态范围
 -荧光背景抑制
 -计数率
 -同步辐射级别的辐射硬度
 -免维护运行
 -高可靠性：没有容易发生故障的密封，无需冷却至室温以下
3、应用领域
 -电荷密度分析
 -对分布函数（PDF）分析
 -高分辨率化学结晶学
 -高压/高温XRD
 -关键尺寸SAXS
 -计算机断层扫描（CT）
 -无损检测（NDT）技术参数：PILATUS3
RCdTe1M300K300K-W100K探测器模块数量2×51×33 × 11×1有效面积：宽×高[mm²]168.7x179.483.8×106.5253.7x33.583.8x33.5像素大小[μm²]172x172总像素数量981x1043 487×6191475×195487x195间隙宽度,水平/垂直（像素）*每个模块之间水平间隙增加1个像素7*/17-*/177*/--*/-非灵敏区[%]7.85.71.10.2缺陷像素<0.1%最大帧频[Hz]5202020读出时间[ms]7点扩散函数1pixel（FWHM）计数器深度20bits（1,048,576counts）功耗[W]165303030尺寸（WHD）[mm³]265x286x455158x193x262280x62x296114x69x118(探头)重量[kg]257.57.00.9（探头）模块冷却水冷水冷水冷水冷外接触发电压5VTTL5VTTL