自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理

使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式，扫描范围1um×1um，256×256点阵。操作时长依赖于操作者。

传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微镜到SPM/AFM，各模式下均可清晰地捕捉图像利用光学显微镜搜索目标区域，利用SPM可以方便地进行高分辨率观察。利用与表面形状图像相同的视场可以获得其他物理特性信息。样品：硅基底上的二氧化硅图案

丰富多样的扫描模式从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析，支持广泛的扫描模式。这意味着可以兼顾高分辨率与物性测试。

搜寻目标区域更容易利用清晰地光学显微镜图像，可以轻松找到目标区域，不用担心振动的影响。SPM-Nanoa集成了一体式高性能光学显微镜。高分辨观察表面物性极软样品的变形或样品局部的机械及电气性能的差异，都可以获得高分辨率的观测图像。8K成像助力大范围高分辨扫描最大可支持8K（8192×8192）扫描点阵，大范围区域的小细节也纤毫毕现。

省时高效支持功能功能模式高速观察通过高速观察和物性高速成谱功能，显著减少了观测时间。探针更换工具和样品更换机构有效缩短了扫描准备时间。高通量观测高速物性成谱采用了可实现高速响应的HT扫描器并优化了控制算法，从而大幅缩短了观察和物性成像的数据获取时间简便顺滑地样品更换高速物性成谱一键式操作实现自动开启、关闭平台，放置和取出样品。由于固定了激光的照射位置，所以在样品更换后可立即进行观察。