CAMTEK自动光学检验AOI设备在碳化硅（SiC）领域的应用。碳化硅晶片是未来一代半导体材料，具有独特的电学性能和优异的热性能。与硅片和砷化镓晶片相比，碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。Camtek开发了专门的检验和计量解决方案，以及分析工具来满足这一新兴市场的需求。

功能：

- 处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上

- 背光查克的早期阶段的过程

- 朋友处理透明的晶片

- eef——边缘控制能力

- 自动缺陷分类（ADC）基于收益管理的深度学习

- 弓测量

- 预测收益率-晶圆缺陷位置精度＜2um

技术：

- sts-表面形貌传感器

- 背光产品 EagleT-AP为先进的包装设计市场，EagleT-AP提供了2d和3d检验和计量在同一平台上，同时保持极高的性能和吞吐量水平。

- EagleT-i设计的速度和准确性，CamtekEagleT-i是一个zui快的和zui精确的2d检查工具在市场上。

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