F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统，能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台，可自动移动到选定的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。用户可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。该桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

F54-XY-200具有集成的显微镜和实时摄像头，可以精确监控膜厚测量点。小尺寸的测量光斑允许测量有图案的样品，并且可以改善在较粗糙的材料上的测量性能。FILMAPPER软件内置的测绘图案生成器使您可以轻松生成测量样品相关区域所需的坐标图案，从而节省了数据采集时间。用户还可以调整样品形状、中心和边缘去除点密度等自定义测绘属性的参数。