X荧光光谱仪是一种先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的快速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术已经转变为光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并朝着智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在现有的台式X荧光光谱仪技术基础上，结合国外新技术，研制出了自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪，得到了江苏省计量科学研究院的检测认证，并通过了中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。

该仪器主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉末冶金分析行业、石油勘探录井分析领域，同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等领域也得到了广泛应用。

该仪器的性能优势包括超低能量分辨率，测试精度更高，分析速度更快，一键式智能操作，强大的自动化功能，强度校正法，完善的光路系统，三重安全防护功能，以及安全警示系统。

仪器配置包括铍窗电致冷SDD探测器、自旋样品腔、高效超薄窗X光管等。技术参数包括射线源、样品腔体积、分析方法、测量元素范围、检测元素、检测对象、探测器及分辨率、激发源、摄像头、测井环境、准直器和滤光片、自旋装置、检出限、真空系统、数据传输、测试台、保护系统、样品放置、软件优势等。

该仪器在粉末冶炼行业具有广泛的应用前景，是一种高端设备，具有多项先进的技术特点。

具备多种测试模式设置和无限数量模式下的自由添加。内置强度校正方法，可校正由几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，扩大了应用范围。