更为精准的检测结果是天瑞人不懈追求的目标，同时天瑞人时刻铭记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 9000就是秉承了这一理念。它延续了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观和环保特点，采用了分析仪器行业先进的极速探测器技术（SDD），可以将测试时间缩短至1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器的专利产品——精密的定位系统，能够实现图像联动控制和多点连续测试。新增加的电动开发的样品腔使操作更加方便，而全新设计的自动样品平台则保证了准确的检测。它的性能优势在于：1秒钟出结果，采用行业先进的极速探测器技术（SDD），分辨率低至125eV，探测面积大（面积达25mm2），单位时间内接受信息多，计数率高，分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低，采用行业先进的数字多道技术，有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率高可达600KCPS，采用大功率X光管及先进的准直滤光系统，激发效率更高，光闸系统保证样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度，精密的定位系统，超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点，多点测试2D全自动移动样品台，实现图像联动控制和多点连续测试，超小样品检测，小可测到0.2毫米，8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择准直器，小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测。它还具有人性化的设计，更安全，X射线联动安全装置、多点测试，预约预热，技术参数测量元素范围广，电源稳定。