仅需0.13秒即可测量8万点的高度
干涉式同轴3D位移测量仪WI-5000系列采用白光干涉原理，可实现高速、高精度的3D测量。

支持从高度差/体积测量到宽度/面积等各种测量。

产品特性不是通过点线来测量，而是以“面”来进行测量。针对最大10×10mm的测量区域，可以瞬间获取8万个点的高度。

由于采用白光干涉原理，不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。

在线实现高速全数检测时，需要高精度且高速扫描目标物。因此，会将时间浪费在移动载物台上，不易进行全数检测。

由于WI-5000系列是以面进行同时测量，因此可大幅缩短测量时间，实现全数检测。

大幅削减离线检测工时，备有可固定传感器头的专用底座。

配备可削减检测工时的各种实用功能。

改善从简易测量到保存数据等各种情况的可操作性。