仪器简介：

SPD 2000 
用途：定性及定量分析，残余应力分析，薄膜，质地，非常规环境分析，奥氏体定量分析，晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算

技术参数：

 常规的定性和定量分析 
 残余应力分析 
 薄膜，质地 
 非常规环境分析 
 残留奥氏体定量分析 
 晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算 
应用领域 
 环境，土壤/岩石，粘土，矿石，陶瓷 
 水泥，玻璃，石油，催化剂，聚合物 
 农业科学，生物科学，化学，医药，化妆品，涂料 
 核工业，钢铁，纺织，电子和磁性材料

主要特点：

SPD 2000为广泛的分析需求提供了解决方案，从常规的定性和定量分析，到残余应力分析，薄膜，质地，非环境分析，残余奥氏体定量分析，晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算。 
SPD 2000的特点 
多功能X射线衍射仪 
有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器，微处理器可通过电脑串行接口控制 
带有可旋转管的管罩，可以使用点聚焦或行聚焦 
调焦Kα1单色器可以得到高亮度和分辨率 
使用Max-FluxTM光学系统的平行光束光学 
透射模式和反射模式之间可以自动转换 
高精度，高速测角仪 
适合Ag，Cr， Fe， Cu， Co ， Mo 辐射的二级单色器 
填充氙气的正比，闪烁计数器，线性或弯曲的位敏检测器（PSD） 
非常规环境分析，低温或高温附件 
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系统，在32位环境下进行数据处理和仪器控制 
包括Rietveld精修的晶体结构软件