HRD 3000衍射计在分析领域中有很广泛的应用，从纺织品质地到薄膜分析、张力测定和反射计等。
在测定层厚度和分析半导体组分的时候，借助高性能、高分辨率的衍射仪，您可以很轻松地获得很好的结果。
高分辨率的反射计研究中可以借助HRD 3000来确定层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度。

用途：应用SHD 3000 高分辨率X-射线衍射仪来确定物质的层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度
3) 应用
 纺织业
 薄膜分析
 应变测量
 半导体中的反射、层厚度、组分、密度、表面和接触面的粗糙程度

有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器，微处理器可通过电脑串行接口控制
高亮玻璃和陶瓷的X-射线管，在直线和点的焦点位置快速旋转
X-Y和旋转台的电子管屏蔽
应用Max-FluxTM 光学系统的平行光束光路
Eulerian cradle可以使样品片刻就排列在一起
通过带有光学编码器的步进电动机进行精确定位的高精度，高速度的测角仪
所有电机具有七级自由度
大尺寸X-Y-Z（X，Y，Z可调节，X，Y为150mm，Z为25mm）机械样品支架可以测量200mm的样品圆片或者其他类型的样品
用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo辐射的二级单色器
花岗岩工作台为测角仪提供了高的机械稳定性
降低背景值或提高强度的使用填充氙气的比例、闪烁计数器、固体状态、线性和弯曲位敏检测器（PSD）
使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系统，在32位环境下进行数据处理和仪器控