仪器简介：

应用： 
◆ 硅外延层的CV测试； 
◆ 半导体器件及化合物半导体（GaAs/SiC）的CV/IV测试。

技术参数：

SSM公司的汞探针CV测试设备是半导体器件、化合物半导体（GaAs/SiC）行业的标准设备，行业占有率超过９０％。其多项专利技术保证了测试的高精确性及重复性。

主要特点：

◆ 高精度和准确性的参数测试(Qeff, Qot, Fbd, Vbd, K...)； 
◆ 在半导体和化合物半导体（GaAs/SiC）行业超过９０％的市场占有率； 
◆ 高重复性（<1%）； 
◆ 非破坏性； 
◆ 双重的filer保护系统确保Hg的使用安全。