产品描述
Ultim Max TLE
我们TEM的旗舰款SDD能谱探测器，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图
Ultim Max TEM
用于纳米尺度分析和元素面分布的SDD能谱探测器。
在任何情况下，使用新型的中端80mm2传感器都能更接近样品，提供更多的X射线计数。结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
0.2 - 0.6 srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图
Xplore TEM
专门为120kV和200kV TEM的常规应用而设计的SDD能谱探测器。
使用新的 80 mm2 传感器，聚合物薄窗口和低噪音电子元器件 , 提供快速和准确的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了更大的便利性
