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上海中国科学院上海应用物理研究所
产品描述
瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 X/XE CdTe产品详情：
1、产品特点：
第四代同步加速器的尖端技术：
EIGER2 X/XE CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm，且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景（低能阈值）并且测量高次谐波的影响（高能阈值）。最大计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。
2、核心优势：
– 高量子效率范围达100KeV
– 无图像延迟或余辉
– 最大计数速率高达107光子/秒/像素
– 双能量阈值
– 电子门控触发
– 有效面积大
3、应用领域：
– x射线衍射(单晶和粉末)
– 现场和原位技术
– 衍射显微镜和层析成像
– 漫散射和对分布函数
技术参数：
型号 | EIGER2 X CdTe 500K | EIGER2 X CdTe 1M | EIGER2 X CdTe 4M | EIGER2 X CdTe 9M | EIGER2 X CdTe 16M | EIGER2 XE CdTe 9M | EIGER2 XE CdTe 16M |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
总像素数量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
最大帧频* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
计数器深度 [ bit ] | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 |
读出时间 | 连续读数 | ||||||
点扩散函数 | 1 pixel | ||||||
传感器材料 | CdTe | ||||||
传感器厚度 [μm] | 750 | ||||||
能量范围 [keV] | 8-100 | ||||||
最大计数率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷却方式 | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） |
