产品描述
产品详情：
1、产品特点：
DECTRIS EIGER2 X/XE光子计数X射线探测器将混合像素科技中的最新发展成果转化成卓越的探测性能。归功于其高达2000Hz的帧率，低于100ns死区时间的无损探测，以及单像素点扩散函数带来的理想计数统计率，使得该探测器能在线站上采集极为准确的数据。
新型的DECTRIS EIGE2R X/XE 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的最高计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。
2、核心优势：
- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力
- 千赫帧速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空间分辨率
- 优秀的点扩散函数
- 无读出噪声和暗电流
- 极其紧凑的外壳
3、应用领域：
-X射线光子相关光谱(XPCS)
- Ptychography(叠层衍射)成像技术
- 时间分辨实验
- 大分子晶体学(MX)
- 单晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)
- X射线成像
型号 | EIGER2 X 500K | EIGER2 X 1M | EIGER2 X 4M | EIGER2 X 9M | EIGER2 X 16M | EIGER2 XE 9M | EIGER2 XE 16M |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
总像素数量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148X4362 | 3108 x 3262 | 4148X4362 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
最大帧频* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
计数器深度 [ bit ] | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 |
读出时间 | 连续读数 | ||||||
点扩散函数 | 1 pixel | ||||||
传感器材料 | Si | ||||||
传感器厚度 [μm] | 450 | ||||||
能量范围 [keV] | 6-40 | ||||||
最大计数率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷却方式 | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） |
