XF-P3镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器、PCB等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器，内置四核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，可支持10层检测，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

西凡镀层测厚仪XF-P3产品特点

元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)          

可支持十层检测

可同时支持镀层厚度和成分检测

检出限：2nm(厚度)，2ppm(成分)

检测精度：相对误差±1.5%(1um厚度）

±0.01%(99.9%)

定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。

三准直器,多滤光片自动切换

XY平面微动平台，行程：30mm×30mm

铅玻璃窗口，方便观察样品