XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

西凡镀层测厚仪XF-P1产品特点

元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)          

可支持四层检测

可同时支持镀层厚度和成分检测

检出限：5nm(厚度)，5ppm(成分)

检测精度：相对误差±2.5%(1um厚度）

定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。

铅玻璃窗口，方便观察样品