产品描述
特点
通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
重量1.9 kg
一次电池充电可持续运行6个小时
测量点：3毫米Ø
高分辨率硅漂移检测器
用于户外的IP54等级
用作台式设备的可选测量箱；
使用完整版WinFTM®软件进行数据统计
应用
测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件
一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）
未知合金的无标准片测量
大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量
电镀层的测试
电镀液金属含量的分析
不只是现场工作专家
FISCHERSCOPE®X射线XAN®500是目前最通用的X射线荧光系统。作为一款手持式XRF分析仪，它非常适合在生产线上检查大型零件（如飞机零件，管道或涡轮叶片）上的镀层；
与市场上其他便携式X射线荧光设备相比，FISCHERSCOPE XAN500可以非常精确地确定镀层厚度。它的三点支撑设计使其易于正确放置，并在整个测量过程中保持稳定。高质量的硅漂移检测器（SDD）确保了分析合金层（如锌镍合金）所需的精度。
但是，XAN 500不仅仅是一个用于大型零件的测量系统。借助可选的测量箱，只需几个简单的步骤即可将其转换为台式仪器。 这样您就可以快速、轻松地检查小零件，如螺母和螺栓。
