普析 高分辨率 SDD 硅漂移探测器 X射线散射仪XRF6贵金属分析仪
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普析 高分辨率 SDD 硅漂移探测器 X射线散射仪XRF6贵金属分析仪

产品属性

  • 品牌普析通用
  • 产地北京
  • 型号 XRF6
  • 关注度1000
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别国产
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产品描述

当X 射线与物质相互作用时,根据散射角度的不同,可以分为两类:一是经过物质的吸收、散射、发射等作用后,被探测器接收的直射 X 射线;二是经过物质散射后发生的散射 X射线。前者称为透射 X射线,用于获得物质的吸收特性:后者称为散射 X 射线,用于获取物质的结构与成分信息。

 先进多光束可调系统;

.  RoHS/WEEE 指令元素快速分析; 

.  内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群; 

.  内置各类标准样品曲线数据库。

.  高分辨率 SDD 硅漂移探测器; 

.  快速定性分析; 

.  完善的辐射安全防护; 


北京普析通用仪器有限责任公司

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