瑞士梅特勒-托利多PL系列精密天平广州德菲科学仪器有限公司

产品描述

低预算天平
经典系列PL天平提供所有基础称量所需的功能。操作简单，LCD显示屏易于读取数据。
功能和特点

紧凑性：便捷，紧凑的设计。

高性价比：具有天平该有的所有基本功能和特点。

实用性：操作简单。

PL-L便携式天平	PL202-L/01	zei大称量值：210g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ120mm
PL-L便携式天平	PL402-L/01	zei大称量值：410g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ120mm
PL-L便携式天平	PL602-L/01	zei大称量值：610g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ120mm
PL-L便携式天平	PL601-L/01	zei大称量值：610g 可读性：0.1g 重复性：±0.1g 线性误差：±0.2g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ160mm
PL-L便携式天平	PL1001-L/01	zei大称量值：1100g 可读性：0.1g 重复性：±0.1g 线性误差：±0.2g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ160mm
PL-L便携式天平	PL2001-L/01	zei大称量值：2100g 可读性：0.1g 重复性：±0.1g 线性误差：±0.2g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ160mm
PL-L便携式天平	PL4001-L/01	zei大称量值：4100g 可读性：0.1g 重复性：±0.1g 线性误差：±0.2g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ160mm
PL-L便携式天平	PL6001-L/01	zei大称量值：6100g 可读性：0.1g 重复性：±0.1g 线性误差：±0.2g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ160mm
PL-L便携式天平	PL6000-L/01	zei大称量值：6100g 可读性：1g 重复性：±1g 线性误差：±2g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ160mm
PL精密天平	PL203	zei大称量值：210g 可读性：0.001g 重复性：±0.001g 线性误差：±0.002g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ100mm
PL精密天平	PL303	zei大称量值：310g 可读性：0.001g 重复性：±0.001g 线性误差：±0.002g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ100mm
PL精密天平	PL403	zei大称量值：410g 可读性：0.001g 重复性：±0.001g 线性误差：±0.002g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ100mm
PL精密天平	PL2002	zei大称量值：2100g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ180mm
PL精密天平	PL3002	zei大称量值：3100g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.03g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ180mm
PL精密天平	PL4002	zei大称量值：4100g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.03g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ180mm
PL精密天平	PL4001	zei大称量值：4100g 可读性：0.1g 重复性：±0.1g 线性误差：±0.01g 校正技术：外校秤盘尺寸：φ180mm
PL-IC精密天平	PL203-IC	zei大称量值：210g 可读性：0.001g 重复性：±0.001g 线性误差：±0.002g 校正技术：内校秤盘尺寸：φ100mm
PL-IC精密天平	PL303-IC	zei大称量值：310g 可读性：0.001g 重复性：±0.001g 线性误差：±0.002g 校正技术：内校秤盘尺寸：φ100mm
PL-IC精密天平	PL403-IC	zei大称量值：410g 可读性：0.001g 重复性：±0.001g 线性误差：±0.002g 校正技术：内校秤盘尺寸：φ100mm
PL-IC精密天平	PL2002-IC	zei大称量值：2100g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：内校秤盘尺寸：φ180mm
PL-IC精密天平	PL3002-IC	zei大称量值：3100g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：内校秤盘尺寸：φ180mm
PL-IC精密天平	PL4002-IC	zei大称量值：4100g 可读性：0.01g 重复性：±0.01g 线性误差：±0.02g 校正技术：内校秤盘尺寸：φ180mm

价格：面议

瑞士梅特勒-托利多PL系列精密天平

产品属性

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