瑞士梅特勒-托利多超越系列XP/XS超微量/微量/电子天平
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瑞士梅特勒-托利多超越系列XP/XS超微量/微量/电子天平

产品属性

  • 品牌
  • 产地
  • 型号XP2U/XP6/XS3DU
  • 关注度26
  • 信息完整度
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产品描述

昂贵样品的安全之选

梅特勒-托利多XP2U是一台创新的超微量天平:提供卓越的称量性能,用户友好界面和质量标准。XP2U超微量天平具有21,000,000的至高分辩率。SmartScreen彩色触摸屏、可设置的显示界面、智能用户向导、以及无需用手接触的SmartSens红外感应器控制的防风罩,使这种高精度天平比以往更快、更容易、和更高效。

梅特勒-托利多XP6微量天平和XP2U/XP6U超微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计,同时确保网络兼容性。

如需获得支持或报价,请点击相应的按钮。我们会直接把您的需求发送给当地的销售代表;他将为你提供所需的信息。

特征和利益
世界领先的称量性能:
XP2U超微量天平达到了无与伦比的0.2 μg(加载0.2 g)典型重复性;这对于显著地降低您的成本来说至关重要。

直观的操作:
结构清晰、可设置的彩色触摸屏确保了简单、快速和无差错的称量操作。同时,zei多能设置8个个性化的用户界面。

轻松通过审查:
内置QM质量管理工具确保了完整的数据安全和记录。XP2U超微量天平成为了法规环境的理想选择。

SmartSens红外感应器:
无需用手接触的称量操作确保使用人员的安全性。用户可以将注意力全部集中在样品的安全处理上,避免溢出,使污染的风险zei小化。

连通性:
标配RS232接口,以第二接口选件插槽,可提供多种通讯接口选件,包括以太网、蓝牙(无线连接)和PS/2等,进行有效的数据采集,便于网络集成。

U形去静电装置(选件):
消除称量样品和容器中积聚的静电荷,确保称量的准确性。

XS微量分析天平 XS3DU zei大称量值:0.8/3.1g
可读性:0.001/0.01mg
重复性:±0.0008/0.006mg
线性误差:±0.01mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:6s
秤盘尺寸:φ27mm
XP U微量天平 XP2U zei大称量值:2.1g
可读性:0.0001mg
重复性:±0.00025mg
线性误差:±0.0015mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:10s
秤盘尺寸:φ16mm
XP U微量天平 XP6 zei大称量值:6.1g
可读性:0.001mg
重复性:±0.0008mg
线性误差:±0.004mg
校正技术:ProFACT
典型稳定时间:7s
秤盘尺寸:φ27mm

广州德菲科学仪器有限公司

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