WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计，可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的3D图像，对图像缩放、钉合、标记无效值、选择视场等操作。
测量和评估软件可自动测量，用户可从表面图像中选取和处理轮廓线。

主要用途：
◆ 粗糙和光滑表面的显微研究和测试
◆ 产品凸凹结构图
◆ 可根据特殊用途定制

主要特点：
◆ 实现对光滑和粗糙表面测量
◆ 不用订合可达到测量区域为1cm²
◆ 具有快速物镜切换功能
◆ 横向分辨率可达1um，垂直分辨率zei高可到1nm
◆ 测量结果与色彩和材料无关
◆ 能实现秒级的快速测量

主要优点：
◆ 表面结构的快速分析
◆ 测量结果与材料表面性能无关
◆ 自动数据采集和评估

技术数据：
光源：LED
测量范围（µm）：100/150

垂直分辨率（nm）：＜1
横向分辨率（µm）：≥0.2

光圈：0.95

测量面积（µm）：90*70

图像尺寸（Pixel）：1280*1024