简介
这款机型在2000年世行投标仪器的基础上做了大量的改进工作。功能更强，使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌检测功能，隧道电流-针尖偏压（I-V）曲线测量功能，隧道电流-间隙（I-Z）曲线测量功能和针尖修饰功能。
用户还能根据对教学/科研不同的要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。
同我们所有MicroNano 系列产品一样，这款机型还可以根据用户需要，选购相应的功能模块，将功能扩展至原子力显微镜模式、磁力显微镜模式。

产品技术指标
扫描模式：S TM恒流/恒高模式扫描；隧道电流-针尖偏压（I-V）曲线测量；隧道电流-间隙（I-Z）曲线测量；针尖修饰（脉冲）
样品尺寸：≤Φ10mm
样品厚度：≤5mm
扫描范围：标准配置6μm×6μm
分辨率：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm
XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
zei大扫描速率：20000 P/S
扫描角度：0~360°
图像采样点：256×256 / 512×512
马达控制：线动螺纹+自动马达，行程