MicroNano AFM-II型原子力显微镜（包含STM、AFM接触/非接触模式）
简介
这款机型集STM、AFM（接触/非接触模式）于一体。具有STM恒流模式/恒高模式形貌检测， I-V曲线测量， I-Z曲线测量，针尖修饰功能。AFM接触/非接触模式形貌检测功能，划移扫描，F-Z曲线测量功能。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。
同我们所有MicroNano 系列产品一样，这款机型还可以根据用户需要，选购相应的功能模块，将功能扩展至原子力显微镜轻敲模式、磁力显微镜模式。

产品技术指标
扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触模式形貌/划移扫描，F-Z曲线
样品尺寸：≤Φ10mm
样品厚度：≤5mm
扫描范围：标准配置6μm×6μm
分辨率：S TM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
AFM（X-Y向0.3nm；Z向0.03nm）
XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
zei大扫描速率：20000 P/S
扫描角度：0~360°
图像采样点：256×256 / 512×512
马达控制：线动螺纹+自动马达，行程