MicroNano - 3000型多模式扫描探针显微镜
简介
这款机型除了拥有AFM-III型原子力显微镜的全部功能以外，主要增加了磁力显微镜功能。集STM、AFM接触/非接触/侧项力/轻敲模式、MFM于一体。并使用了智能针尖连接专利技术，使各种工作模式之间的转换只需替换相应的针尖架，不必替换整个探头，软件能够自动识别当前针尖类型，并自动切换到相应的工作模式。操作非常方便。
用户还能根据不同的科研要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台，使操作更加方便、精确。

产品技术指标
扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描/ I-V曲线测量/I-Z曲线测量/针尖修饰（脉冲）
AFM接触/非接触/侧向力/轻敲模式形貌/划移扫描，F-Z曲线
磁场力成像
样品尺寸：≤Φ10mm
样品厚度：≤5mm
扫描范围：标准配置6μm×6μm
分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接触模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
轻敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位精度）
数据采样：双12-bit A/D （相当于20位精度）
zei大扫描速率：20000 P/S
扫描角度：0~360°
图像采样点：256×256 / 512×512
马达控制：线动螺纹+自动马达，行程