产品描述
P系列可满足以下类型用户的需求：
小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
期望在多个样品上实现自动化测量
样品尺寸和应用经常变化
保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
产品详情
P系列 提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。
标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。 可以为应用定制准直器和焦距。 固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。 SDD检测器是可选的。
机型对比
| 元素测量范围： | 13号铝元素到92号铀元素 |
| X射线管： | 50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管 |
| 探测器： | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 |
| 分析层数 及元素数： | 5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 |
| 滤波器/准直器： | 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器 |
| 焦距： | 可变焦 |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 计算机： | 联想商用i5控制电脑(Win10 简体中文）,显示器,彩色喷墨打印机 |
| 相机： | 1/4''（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 视频放大倍率： | 30x：标准45x：可选 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 重量： | 32-50kg |
| 马达控制/可编程XY平台 | 桌子尺寸：381mm（15“）x 340mm（13”）| 行程：152毫米（6英寸）x 127毫米（5英寸） |
| 延伸可编程XY平台： | 桌子尺寸：635mm（25“）x 635mm（25”）| 行程：254毫米（10英寸）x 254（10英寸） 现在可用 扩展 舞台选择 |
| 样品仓尺寸： | 高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"） |
| 外形尺寸： | 高度：450毫米（18英寸），宽度：450毫米（18英寸），深度：600毫米（24英寸） |
