世界zei顶级的原子力显微镜
世界上扫描速度zei快、分辨率zei高的的原子力显微镜

Dimension FastScan原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，zei大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各 技术水平的AFM用户获得数据的时间。
为提高AFM使用效率和检测性能，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨率，不增加操作复杂性， 不影响仪器使用成本的前提下，帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统，即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论 设置实验参数为扫描速度 > 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功 能。

聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研 究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境 等领域的监测等各类科研和生产工作
卓越的仪器检测性能
在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。
无与伦比的测量分辨率
Fastscan精确的力控制模式提高了图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。
扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
全面的测试功能，适用于各类AFM样品
闭环控制的Icon和FastScan的扫描器极大的降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。
Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证扫描过程中从埃级到0.1μm的高精度无失真扫描。

不 论您选择Icon扫描器获得超低噪音和超高分辨率的图像，还是选择Dimension FastScan  AFM的扫描器进行高速扫描检测，Dimension FastScan  AFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到zei大程度，实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。

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