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FIB-SEMHelios 5 DualBeam赛默飞
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FIB-SEMHelios 5 DualBeam赛默飞
PIPES指数:7.8用户:应用:

型号型号:Helios 5 DualBeam

品牌品牌:赛默飞

产地产地:北京

北京欧波同光学技术有限公司

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核心参数
双束聚焦扫描电镜(FIB-SEM)产品推荐
产品描述
产品介绍:
新一代的赛默飞世尔科技Helios5DualBeam具有领先的高性能成像和分析性能的Helios5产品系列,经过精心设计,满足了材料科学研究人员和工程师对FIB-SEM的广泛使用需求,即使是最具挑战性的样品。Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准:最高的材料对比度,最简单、最快、最精确的高质量样品制备,用于S/TEM成像和原子探针断层扫描(APT),以及最高质量的亚表面和3D表征。
在基于HeliosDualBeam系列的久经考验的性能上,新一代的Helios5DualBeam进行了改进优化,以确保系统能够处于手动或自动工作流程的最佳状态。
产品参数:
半导体行业技术参数:
Helios5CX Helios5HP Helios5UX Helios5HX Helios5FX
样品制备与XHR扫描电镜成像 最终样品制备(TEM薄片,APT) STEM亚纳米成像与样品制备 SEM着陆电压
20ev-30kev 20ev-30kev
分辨率 0.6nm@15kev 1.0nm@1kev 0.6nm@2kev 0.7nm@1kev 1.0nm@500ev
STEM分辨率@30kev 0.7nm 0.6nm 0.3nm
FIB制备过程 最大材料去除束流 65nA 100nA 65nA
最终最优抛光电压 2kv 500v
材料科学行业技术参数:
Helios5CX Helios5UX
离子光学 TomahawkHT 离子镜筒 Phoenix
离子束电流范围 1pA-100nA 1pA-65nA
加速电压500V-30kV 500V-30kV
最大水平视场宽度 0.9mm 0.7mm
离子源寿命 1,000hours 1,000hours
电子光学 Elstar超高分辨率场发射镜筒 磁浸没物镜
高稳定性肖特基场发射枪 提供稳定的高分辨率分析电流 电子束分辨率(下限) 0.6nm at 30kV STEM
特点与用途:
Helios5是所有体验级别用户最易使用的DualBeam,操作员培训时间缩短,并且系统设计可帮助所有操作员在各种高级应用程序上实现一致、可重复的结果。提高了生产率:Helios5和AutoTEM5软件的先进自动化功能,增强的稳健性和稳定性允许无人值守甚至夜间操作,显着提高样品制备通量。改善时间和结果:
Helios5DualBeam 现在包括FLASH,这是一种调整图像的新概念。传统的显微镜需要操作员每次获取图像时,通过迭代对中仔细调整显微镜。而使用Helios5DualBeam,屏幕上的简单手势将激活FLASH,并自动调整这些参数。自动调整可以显著提高通量、数据质量并简化高质量图像的采集。
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