型号:5100N
品牌:日立
产地:日本
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价格范围: | |
产地: | 亚洲 |
供应商性质: | 生产商 |
产地类别: | 进口 |
仪器种类: | 原子力显微镜 |
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
特点
通常的悬臂是非常渺小而且很难操作,内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多,容易拿取,安装非常简单方便。
激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置,操作复杂,而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。
悬臂的机械结构,能够以俯视方式直接观察悬臂的位置,从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外,更加尖锐的探针提高了分辨率。
通过流程图形式的导航系统,任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外,通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数,能够简单确定测量条件。
主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件,安装紧凑,体积小巧。
通过激光检测方式,能够扩展各种各样的选配功能。另外,只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。
上海上海市质量监督检验技术研究院
上海上海谱尼测试技术有限公司
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中科院沈阳应用生态研究所
云南临沧市质量技术监督综合检测中心