ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF)

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。

能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。

     先进的技术

• 独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器

• 数字脉冲处理 (DPP) 技术

• 高性能、多元素分析 

     主要功能 

• 出色的痕量分析灵敏度

• 高分析量的进程控制

• 适用于异常材料的高级分析算法

• 出色的样品处理灵活性

• 机械简化和灵活性

• 占地面积小、易于运输以进行野外测量

• 快速、简易的安装以及可完全现场定制

• 随附完整的实验室启用套件

• 经验证的硬件和全套软件

• 现场、协同方法开发

• 完整的技术应用支持

• 汇集了数百种应用的专业知识

     功能强大、易于使用的 WinTrace*软件 

• 无标和半无标分析

• 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法

• 多层厚度及成分

• 不限元素、不限数量的标样

• 利用自动化操作实现多个激发条件

     可用于：

• 悬浮颗粒物过滤器

• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析

• 法医及痕量分析

• 营养补充剂

• 磁性介质和半导体

• 土壤污染

• 过滤器上的薄膜

• 塑料中的有毒元素