产品描述
C12132近红外荧光寿命测试仪将C11367的波段扩展到了1650nm，实现对近红外波段的荧光寿命检测。近红外区域的荧光材料向来是业界关注的重点，诸如太阳能电池领域备受关注的CIGS材料；半导体领域的锗元素；为了更深组织穿透性而设计的各种生物荧光探针——其荧光发射波长都处于近红外区域。但同时，近红外区域也恰恰是传统光探测器所不擅长的光谱区域，各种耳熟能详的光探测器更多地集中在可见光区域。为了拓宽仪器的适用范围满足前沿研究的需求，滨松开发了C12132近红外荧光寿命测试仪。自产的顶级近红外光电倍增管，其高量子效率与低暗噪声保障了仪器面对微弱信号的测量能力。此外，针对多种热点应用，滨松还提供各种适配配件，方便科研一线客户的各种具体需求。
产品指标：
型号 | C12132-36 | C12132-37 | C12132-38 |
激发光波长 | 532nm | 取决于所选光源* | |
输出功率 | 30mW | ||
脉宽 | 小于1.0ns | ||
重复频率 | 15kHz | ||
激发光能量自动调整 | 软件自动调整 | ||
响应波长范围 | 380nm-1650nm（探测器独立参数） | ||
测量波长范围 | 580nm-1650nm（使用532nmYAG激光器） | 380nm-1650nm | |
时间分辨率 | 小于1.0ns | 取决于所选光源* | |
测量时间范围 | 4ns-50us | 4ns-10s | |
时间轴通道 | 1024通道 | 512通道，1024通道，2048通道，4096通道 | |
激光等级 | Class 1 | Class 3B | 取决于所选光源* |
操作系统 | Windows 7 (32位/64位）；Windows 10（64位） |
配件：
型号 | 说明 | 低强度激光器 | 高强度激光器 | 皮秒激光器 | 控温低温测试 | 液氮低温测试 | 多点扫描测试 |
C12132-36 | Class1YAG激光器荧光寿命测量系统 | ● | ━ | ━ | ━ | ━ | ━ |
C12132-37 | Class3BYAG激光器荧光寿命测量系统 | ━ | ● | ━ | ━ | ━ | ━ |
C12132-38 | 皮秒激光器荧光寿命测量系统 | ━ | ━ | ● | ━ | ━ | ━ |
PLP-10 | 皮秒激光器 | ━ | ━ | ● | ━ | ━ | ━ |
A12133-04/05 | 牛顿低温恒温器样品仓 | ━ | ━ | ━ | ● | ━ | ━ |
A12133-02 | 液氮低温测试样品仓 | ━ | ━ | ━ | ━ | ● | ━ |
A12133-03 | 多点扫描测试样品仓 | ━ | ━ | ━ | ━ | ━ | ● |
C12350-01 | 多点扫描测试平台 | ━ | ━ | ━ | ━ | ━ | ● |
A12349-01 | 多点扫描测试光纤 | ━ | ━ | ━ | ━ | ━ | ● |
