日立仪器 X-MET5000(手持式XRF元素分析仪)

产品规格

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X-MET5000能够进行高精度、高可靠性的元素分析。

性能与优点

日立仪器推出了新款手持式X射线荧光光谱仪， 可满足各种苛刻的元素分析要求。

日立仪器宣布推出一款坚固的手持式X射线荧光光谱仪(XRF) — X-MET5000，该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。日立仪器的手持式X射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000是其第四代产品。

这款全新的光谱仪拥有高性能和高可靠性，它综合了PentaFET专利探测器技术，能够保证所有用户感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。 这款光谱仪专门为各种最严格的质量控制应用而设计，例如金属废料回收利用、合金分类鉴定以及玩具和消费产品的含铅量检测结果是否符合RoHS指令要求。此外，X-MET5000还能满足采矿业的需求，也可在环境监测行业中用于测定土壤中的重金属含量。

X-MET5000的主要优势就在于其轻元素处理 (LET) 模式，此模式可允许对重金属进行快速、准确的分析——即使样品中存在铝和硅等轻元素，仍不会影响其分析结果。而其他普通分析仪由于只使用“基本参数（FP）法”，根本无法分析由于轻元素的存在对最终的分析结果造成的干扰。

这款坚固、可靠的工具通过了IP54 (NEMA 3)认证，具备卓越的防水防尘性能。X-MET5000是恶劣应用环境的理想选择。该仪器所配备的电池可持续使用一个工作日，从而提高了工作效率。

其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果，从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET5000能够识别材料类型，并自动选择最佳分析方法。

借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。