铜箔测厚仪 - CMI95M
价格:面议

铜箔测厚仪 - CMI95M

产品属性

  • 品牌日立
  • 产地日本
  • 型号CMI95M
  • 关注度9
  • 信息完整度
  • 产地类别进口
  • 产地亚洲
  • 供应商性质一般经销商
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产品描述

日立分析仪器CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。

上海秦治实业有限公司

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