一、产品介绍

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。
 ARL QUANT´ X荧光能谱仪是一个完整的配置包，配置顶级的硬件，先进的分析软件，基于数百个XRF成功应用分析案例和几十年的实践经验，为现场应用方法开发和技术支持提供了强大的支撑。

二、应用领域

1．地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）
2. 司法鉴定、法医及痕量分析（对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析）
3. 艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)
4. 质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）
5. 发动机部件、电机/润滑油（识别电机/润滑油中的发动机磨损产物）
6. 生命科学（检查树木横断面/叶子/树根年轮）
7. 材料科学（钢材腐蚀检验）
8. 环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)
9. 过滤器上的薄膜（空气滤膜）

三、产品特点

1. 有如下分析优势:
1.1 快速分析 F到U之间的元素
1.2 灵敏度从 <1 ppm -100%
1.3 多元素的测量时间10-60秒
1.4 多达8种的设置条件同时选择，应用于各种样品的多元素分析
1.5 通过 CCD 照相机显示样品影像
1.6 可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小
1.7 独有的电制冷Si(Li)检测器技术和数字脉冲处理器技术
1.8 Wintrace 多元化的 XRF 应用软件，多个报告输出选项
1.9 高级无标样 厚度和涂层分析
1.10 专利的UniQuant 无标样分析技术
1.11 机械持久性，可保证长期的无故障使用，占地面积小，机动性好
1.12 可以为客户定制应用并在线升级， 易于安装维护
2. 探测器内部的卓越-独特技术
作为一个有着超过40年经验的X射线探测器制造商，本公司深入了解并定义了探测器性能的关键参数。经历了4代探测器的技术创新，硅锂Si(Li)探测器成为ARL QUANT´ X 的心脏 ，提供了高灵敏度，速度和可靠性。
2.1 更低的晶体温度提供了更佳的分辨率
2.2 更厚的晶体可获得更佳的探测性能
2.3 大的晶体面积可获得更佳的检测下限
3. 功能强大、易于使用的 WinTrace软件
3.1 无标和半无标分析
3.2 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
3.3 多层厚度及成分
3.4 不限元素、不限数量的标样
3.5 利用自动化操作实现多个激发条件