PerkinElmer 公司的 LS-55 荧光光谱仪连接激光做光源的荧光分析方法能够准确的测试上转换材料的荧光发射峰测试结果良好，为上转换材料的发光表征提供了完美的解决方案。该方法操作简单，使用方便，成本低廉，能够满足绝大多数样品的测试。并且易于拆卸，也能满足常规样品的测试，是一个非常实用的解决方案。

技术参数：波长精度: ±1nm波长重复性: ±0.5nm带宽: 激发狭缝缝2.5-15nm, 发射狭缝2.5-20nm调节步距均为0.1nm扫描速度: 10-1500nm/分, 调节步距为1nm; 亦可按时间收集数据发射滤光片: 290, 350, 390, 430, 及515nm, 5片; 另有1%衰减片,均由软件选择灵敏度: 用350nm激发波长测定纯水拉曼谱带,在拉曼峰处最低信噪比为750:1(RMS), 在基线处最低信噪比为2500:1(RMS)