ICP-AESiCAP 7200iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪 适用于测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
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ICP-AESiCAP 7200iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪 适用于测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量

产品属性

  • 品牌赛默飞
  • 产地英国
  • 型号iCAP 7200
  • 关注度242
  • 信息完整度
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产品描述

赛默飞ICP-AESiCAP 7200参考多项行业标准 iCAP 6000 Series ICP-OES。完成钴酸锂电池的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量项目。

锂离子电池的正极材料目前主要有钴酸锂、锰酸锂、镍酸锂、磷酸铁锂
及锂钴锰镍复合氧化物,钴酸锂作为正极材料的锂离子电池主要应用于能量
密度要求高的移动电话、笔记本电脑等领域;但由于受到钴酸锂原料加工合
成工艺的影响,在合成过程中条件稍有变化就容易生成杂质,降低材料的储
能容量。另外,在锂电池的充放电循环过程中,由于铁等多种杂质元素的存
在常常导致材料晶体结构的塌陷,最终会严重的影响电化学循环寿命和带来
安全性的潜在因素。因此,能够准确测定钴酸锂电池材料中的杂质元素含量
将具有重要意义。
对于光谱分析而言,钴酸锂材料中的基体钴属于典型的富线光谱元素,其
波长分布范围由169.334 nm至935.7 nm共包含近900条发射谱线,几乎含盖了
所有分析元素的波长;因此,对于这类样品中微量的杂质元素分析而言,除了
将会受到基体效应干扰的同时还将会受到严重的光谱重叠干扰,这也意味着将
大大增加这些杂质元素分析的难度和必须选择更为合理的光谱分析方法。
本文采用 iCAP 6000 Series ICP-OES,通过对样品前处理方法、等离子
体参数、分析谱线选择、钴基体效应对锂元素所产生的信号抑制作用的影响
等内容进行了研究和优化,详细地介绍了钴酸锂电池材料中的主量元素锂及
20种杂质元素的方法研究报告。

电感耦合等离子体-光学发射光谱法 (ICP-OES) 是对液体和固体样品中的痕量元素进行分析和定量的公认强大技术。

iCAP 7200 ICP-OES 具有以下特点和优势:

取样系统:

  • 分析就绪型样品导入参数不需对泵速、等离子体 RF 功率和气体流速进行优化。

  • 一个 3 通道、12 转子的蠕动泵,带有独特的排液监测传感器,提供顺畅、低噪音的信号和安全的操作。

  • 插入式炬管座和接头方便安装/拆卸。

  • 组合式进样系统易于重新配置和维护。

  • 增强基质耐受 (EMT) 炬管设计改善了高基质样品的操作。

  • 光学排液监测传感器可监测来自雾化室的排液情况,在发现不正常排液的情况下可自动熄灭等离子体炬焰。

  • 适用于一系列自动进样器,从而可在无人照看的条件下自动分析。



Thermo Scientific™ iCAP™ 7200 ICP-OES 是一种经济划算的入门级仪器,可为预算有限的实验室提供完美解决方案,从而有助于满足低样品数量的处理要求。iCAP 7200 ICP-OES 能分析液体和固体样品内的痕量元素,可提供异乎寻常的灵敏度和准确度。该光谱仪内装 Thermo Scientific™ Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™ (ISDS) 软件,从而可快速进行设置和操作。


赛默飞色谱与质谱分析

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