雷尼绍共焦显微拉曼光谱仪inVia™ InSpect可以用在多个行业领域，用来检测Sic，可完成inVia Raman分析Sic项目。符合多项行业标准Renishaw。

碳化硅具有宽的带隙、高的导热性和较高的击穿场等显著的优点，而且具有化学惰性和热惰性。这些特性使其在晶体管（JFET、MOSFET、ETS）中（如高温电子器件）以及快速高压设备中具有非常广泛的应用。 

“雷尼绍inVia显微拉曼光谱仪是市场上最好的光谱仪之一，以其超高灵敏度和整体效率脱颖而出。我们在inVia系统的基础上进行了优化，增添了更多功能特性，以适合大多数刑侦实验室使用。使用inVia InSpect，用户能够更快速地处理更多样品，甚至是那些通常分析困难或耗时的样品。此外，样品可保持完整性，因为只需少量制备。新接触拉曼系统的用户将会发现InSpect易学且易用。”

特性

inVia InSpect标配在常规实验室进行有效刑侦分析所必需的功能特性：

• 高度自动化数据采集和分析 — 节省时间、提高样品检测效率

• 各种显微镜对比观察技术 — 包括明场、暗场和偏光观察

• 高性能摄像机和长工作距离物镜 — 可靠地在衬底上定位您要分析的点和区域，无论繁简

• 全集成的共焦能力 — 针对不同的应用场合选择最佳共焦设置，以精确选定要分析的区域

• 强大的化学图像生成能力 — 使用全集成的扫描成像技术揭示样品中的成分分布

• 颗粒分析 — 使用高级图像识别算法和仪器控制功能来表征颗粒分布

• 相关成像 — 将拉曼图像与采用其他显微技术获得的图像相结合，创建具有丰富信息的合成图像

• 双激光波长 — 针对不同的样品类型选择能够采集最佳拉曼数据的波长，无需更换镜组或光栅。

• 自动校准和准直 — 操作简单，可轻松优化

inVia™ InSpect可识别样品制备困难或费时的材料。例如，硬结晶粉末、陶瓷碎片和玻璃碎片无需样品制备即可轻松分析。InSpect还具有强大的共焦拉曼能力，能够精确分析，而不受周围相邻材料的干扰，这一点在分析包含多层、空隙或包裹体的复杂结构时至关重要。