应用领域：其他
检测样品：二次电子与二次离子成像FIB MI4050
检测项目：二次电子与二次离子成像FIB MI4050
参考标准：/
日立新型的FIB系统 MI4050，利用不同的探测器实现对二次电子和二次离子的观察，扩展了成像模式，获得更好的成像效果。
方案摘要
