应用领域：其他
检测样品：FIB-SEM-Ar“三束“系统
检测项目：FIB-SEM-Ar“三束“系统
参考标准：/
日立最新双束FIB系统 NX2000（图1）可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工，达到更好的加工效果 。
方案摘要
