应用领域：地矿/钢铁/有色金属
检测样品：陶瓷
检测项目：孔隙测定
介绍
Bruker的高分辨率三维X射线显微镜（XRM）可以为大家解答这些问题，它可以在无损的情况下对陶瓷样品孔隙结构在三维空间内进行表征，无需镀层，切片等特别的制样工序，简单易用。下图为隔热陶瓷的三维图像，与内部正交切片图。在高精度图像的基础上，通过3D.suite软件我们可以得到这种陶瓷的孔隙结构特征
方案摘要
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