M&M 2018丨这里有一台最新的 Xe FIB-SEM 'S9000X' 即将发布!

2018-8-03 13:33

作为电子显微镜行业的全球供应商,TESCAN 将携多款扫描电镜、聚焦离子束系统、多维 X 射线 CT 显微镜及联用扩展分析技术亮相本次大会,并隆重发布 TESCAN 最新一代 Xe 等离子双束电镜系统 S9000X !

“M&M 2018”(M&M,Microscopy and Microanalysis)将于2018年8月 5日-9日在美国马里兰州的巴尔的摩市召开。M&M是由美国显微学会MSA(MicroscopySociety of America)主办的全球最大的显微技术和分析科学大会,每年举办一次。 

TESCAN作为电子显微镜行业的全球供应商,将携多款扫描电镜、聚焦离子束系统、多维X射线CT显微镜及联用扩展分析技术亮相本次大会,并隆重发布TESCAN最新一代Xe等离子双束电镜系统S9000X! 

在午餐和发布会期间,还有来自TESCAN的科学家们带来前沿显微技术及应用讲座。在TESCAN展台,我们也为参观者提供了现场的样品检测演示。

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△ 将现身 M&M 2018 的 TESCAN 产品


展览会日期:2018年8月5日~9日

展览会地点:美国·马里兰州·巴尔的摩

届时,欢迎前去参展的各种专家学者莅临 TESCAN BOOTH #413 参观交流!

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TESCAN Program Schedule & Overview

Lunch & Learns

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Evening Tutorials

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Technical Presentations

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领域:电子/电器/半导体

标签:TESCAN,新品发布,S9000X, Xe等离子FIB