应用领域：
检测样品：元素检测
检测项目：地质样品
参考标准： 对比测量
地质样品属于非均质样品，对地质样品的各种化合物经行分布分析对了解地质过程、勘探矿物资源以及其它应用具有重要意义。 微型X射线荧光（μ-XRF）非常适合上述用途。μ-XRF空间分辨率非常好，对低浓度元素非常灵敏。本报告对地质样品的化验进行了阐述，论述了不同测量参数对分析结果的影响。
方案摘要
